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热流仪

高低温循环测试机/热流仪

product & project

射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供精确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。

高低温循环测试机/热流仪

在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其它环境测试模拟。

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高低温循环测试机/热流仪 参数表
型号AES-4535
AES-4535W
AES-6035
AES-6035W
AES-8035
AES-8035W
AES-A1035WAES-A1235W
温度范围-40℃~225℃-60℃~225℃-80℃~225℃-100℃~225℃-120℃~225℃
控温精度±1℃ 控制蒸发温度
制冷能力-40℃-60℃-80℃-100℃-120℃
2.5kW2kW1.5kW1.2kW1.2kW
空气要求空气滤清器<5um  空气含油量<0.1um  空气温湿度:5℃-32℃  0-50%RH
空气处理能力10m3/h-30m3/h 压力5bar-7.6bar
节流方式电子膨胀阀
控制器PLC控制器
显示记录制冷系统压力采用指针式压力表实现,循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上
主要部件丹佛斯干燥过滤器、卡斯托电磁阀、丹弗斯压力控制器、EBM风机(风冷)、丹佛斯/艾默生油分离器、SMC过滤器、艾默生电子膨胀阀、江森压力传感器
压缩机泰康、都凌
高温降温具备高温225度直接降温技术,满足目标在高温运行时迅速进行降温能力
电源V220V 50HZ380V 50HZ
尺寸540*690*1320540*690*1320745*725*1325800*1200*17501000*1500*1850

产品优势:

  • 温度控制范围:-120℃ 至+300℃,升降温速率⾮常快速,150℃〜-55℃<10秒,最⼤⽓流量:30m³/h;
  • 实时监控被测IC真实温度,实现闭环反馈,实时调整⽓体温度升降温时间可控,程序化操作、⼿动操作、远程控制
  • 测试条件:环境温度20℃,30m³/h,5Bar,压缩空⽓或氮⽓可定制100m³/h⽓体流量快速冲击测试机,⽤于满⾜较⼤测试功率需求
-120~+300℃控温范围
±0.1℃控温精度
可定制
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